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四探針電阻率測試儀HPS2561 測試參數：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

    四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立...
                
		
          
			
                    
                
                    
                
                    HPS2526精密方塊電阻測試儀可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現的電阻表征，由于方阻與鍍層厚度成反比，也就可以由方阻計算出鍍層厚度。 HP...
                
		
          
			
                    
                
                    
                
                    鍍膜電阻測試儀HPS2523 是海爾帕科技結合行業(yè)需求，專門推出的一款針對薄膜金屬化檢測的測試儀。薄膜金屬化是生產金屬化有機薄膜電容器的關鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化盾量的重要參數之一。